Kod taryfy celnej 9031410000

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

Hierarchia klasyfikacji taryfowej

  1. 90 OPTICAL, PHOTOGRAPHIC, CINEMATOGRAPHIC, MEASURING, CHECKING, PRECISION, MEDICAL OR SURGICAL INSTRUMENTS AND APPARATUS; PARTS AND ACCESSORIES THEREOF
  2. 9031 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors
  3. 903141 Other optical instruments and appliances
  4. 903141 For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

Sprawdź stawkę celną

Do sprawdzenia stawki celnej wymagane są kraj pochodzenia i data przywozu.

Sprawdź stawkę celną →

Katalog zawiera informacje o klasyfikacji z datowanego zestawu danych. Obowiązująca stawka celna zależy od pochodzenia i daty przywozu. Mogą mieć zastosowanie cła antydumpingowe i wyrównawcze, środki ochronne oraz inne warunki. Katalog nie określa uniwersalnej ani gwarantowanej stawki celnej.