Zolltarifnummer 9031410000

zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Einordnung im Zolltarif

  1. 90 OPTISCHE, FOTOGRAFISCHE ODER KINEMATOGRAFISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; MESS-, PRÜF- ODER PRÄZISIONSINSTRUMENTE, -APPARATE UND -GERÄTE; MEDIZINISCHE UND CHIRURGISCHE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE; TEILE UND ZUBEHÖR FÜR DIESE INSTRUMENTE, APPARATE UND GERÄTE
  2. 9031 Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, in diesem Kapitel anderweit weder genannt noch inbegriffen; Profilprojektoren
  3. 903141 andere optische Instrumente, Apparate und Geräte
  4. 903141 zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

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Für die Prüfung des Zollsatzes sind Ursprungsland und Einfuhrdatum erforderlich.

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Der Katalog zeigt Informationen zur zolltariflichen Einreihung aus einem datierten Datenstand. Der anwendbare Zollsatz hängt vom Ursprung und Einfuhrdatum ab. Antidumping- und Ausgleichszölle, Schutzmaßnahmen sowie weitere Bedingungen können gelten. Ein allgemein gültiger oder garantierter Zollsatz lässt sich daraus nicht ableiten.